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V101 自動化測試與整合系統

V101 自動化測試與整合系統

系統概述

V101 自動化測試與整合系統設備

V101 自動化測試與整合系統是一個高度彈性的測試平台，適用於半導體製程驗證、元件分析與教學研究等領域。它具備以下核心能力：

  • 最高支援 1024 Pin 數位訊號測試，速度達 100 MHz。
  • 可同時進行多站點（Multi-site）測試，最高可支援 64 個測試站。
  • 採用模組化架構，能依需求整合多種量測與控制設備。

特色與功能

  • 支援多種測試模式與參數設定。
  • 可搭配設備： 可搭配 Probe Station、光源模組及功能性 IC 量測設備。
  • 廣泛適用領域： 適用於半導體製程驗證、元件分析與教學研究。

主要應用

  1. CMOS 影像感測器測試（CIS Test）：

    整合影像擷取卡、光源與影像處理電腦，進行 DC、AC 與功能性測試。

  2. 故障分析（Failure Analysis）：

    提供精確驅動訊號以觀察電路行為，可搭配 PICA、EMMI 等分析設備。

  3. 功率元件測試（Power Device Test）：

    整合外部高壓設備（GPIB／Ethernet），執行電壓輸出、量測與資料擷取。